Thiết bị nhiễu xạ tia X

Hình dáng bên ngoài của thiết bị nhiễu xạ tia X

Bằng cách chiếu tia X vào mẫu và đo tia X nhiễu xạ, có thể thu được thông tin về các tinh thể trong mẫu. Phương pháp này chủ yếu được sử dụng để phân tích định tính và định lượng các chất tinh thể, đồng thời cho phép phân tích không phá hủy các mẫu màng mỏng, tấm mỏng và bột. Ngoài ra, thiết bị này còn được trang bị ống chuẩn trực và camera để đo các khu vực nhỏ, có thể đo các khu vực có diện tích khoảng 0,5 mm vuông.

Khi một vật liệu được chiếu tia X, tia X sẽ bị tán xạ bởi các electron xung quanh các nguyên tử trong vật liệu, và các tia X sẽ giao thoa và tăng cường lẫn nhau theo các hướng cụ thể, hiện tượng này được gọi là nhiễu xạ. Góc quan sát tia X nhiễu xạ phụ thuộc vào cấu trúc tinh thể (= sự sắp xếp nguyên tử) của vật liệu, do đó có thể thực hiện phân tích định tính các tinh thể có trong mẫu.

Số hiệu thiết bị: Phòng thí nghiệm thông minh (Rigaku)
Ngày giới thiệu: Tháng 2 năm 2018

• Phí xét nghiệm, phân tích hoặc chuẩn bị đòi hỏi vật liệu, nhân công đặc biệt, v.v. và phí nghiên cứu hoặc điều tra sẽ tương đương với chi phí thực tế.
• Riêng đối với những vấn đề cần hành động khẩn cấp do thời hạn quy định, số tiền phí hoặc tiền bản quyền sẽ gấp đôi số tiền quy định ở trên.
• Số tiền phí hoặc lệ phí sử dụng cho các yêu cầu từ những người có văn phòng hoặc địa điểm kinh doanh trong Thành phố Yokohama và không phải là doanh nghiệp vừa và nhỏ theo định nghĩa tại Điều 2 của Luật cơ bản về doanh nghiệp vừa và nhỏ (trang web bên ngoài) sẽ là 1,3 lần số tiền quy định (nếu có phần lẻ nhỏ hơn 100 yên, thì phần lẻ đó sẽ được làm tròn lên thành 100 yên). Chúng ta hãy giả sử rằng.
• Số tiền phí hoặc lệ phí sử dụng liên quan đến yêu cầu từ người không có địa chỉ tại Thành phố Yokohama hoặc cá nhân, tập đoàn hoặc tổ chức khác không có văn phòng hoặc cơ sở kinh doanh tại thành phố sẽ là 1,5 lần số tiền quy định (nếu có phần lẻ nhỏ hơn 100 yên, phần lẻ đó sẽ được làm tròn lên đến 100 yên gần nhất). Chúng ta hãy giả sử rằng.